Полное наименование: Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Научно-исследовательский институт физических проблем имени Ф.В. Лукина"
Краткое наименование: ФГУП "НИИФП"
Адрес: Россия, 103460, Москва, Зеленоград
Тел.: +7 (495) 531-13-06
Факс: +7 (495) 531-46-56
e-mail: admin@niifp.ru
www: http://www.niifp.ru/
Продукция:
Растровые электронные микроскопы STEREOSCAN-360 и CAMSCAN-4;
Профилометр ALPHA-STEP 200;
Масс спектрометр для элементного и изотопного анализа с ионизацией в индуктивно-связанной плазме PLASMAQUAD;
Растровый Оже-микроанализатор PHJ-660;
ВИМС – вторично-ионный масс спектрометр CAMECA IMS 4f;
Высоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп NT-MDT;
Мембраны как направление микромеханики;
Интегральные схемы с однослойной топологией;
Полевые транзисторы с туннельными контактами;
Новое явление - самоохлаждение активной области излучающих гетероструктур;
Технология формирования торцевых джозефсоновских переходов Nb/a-Si/Nb и сверхпроводниковых интегральных схем на их основе;
Технология расчета и проектирования специализированных сверхпроводниковых ИС на основе квантового интерферометра (СКВИДА);
Медицинские приборы;
Считыватель штриховых кодов с устройством сбора информации;
Биометрическое устройство ограничения доступа к компьютеру;
Линейки и матрицы ПЗС;
Фантомная сборка для дозиметрических измерений ионизирующих излучений;
Набор для люминесцентного определения концентрации микроорганизмов в деионизированной воде;
Комплекс приборов и методов для экспресс-анализа водных сред на содержание примеси органических веществ;
Твердотельный электролитический конденсатор;
Литий-полимерный перезаряжаемый источник тока;
Псевдосенсорный комутирующий элемент;
Клеевые составы постоянной липкости;
Фото-электроно-резисты с химическим усилением;
Технология получения тонких кремниевых мембран;
Комплекс установок магнетронного напыления;
SMSGRAPH - программное обеспечение для измерения микронных и субмикронных размеров элементов СБИС с помощью растрового электронного микроскопа;
Кипарис - программа схемотехнического моделирования интегральных схем;
FACT;
Кантилеверы для сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ).