Войти

НИИФП Лукина


Полное наименование: Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Научно-исследовательский институт физических проблем имени Ф.В. Лукина"

Краткое наименование: ФГУП "НИИФП"

Адрес: Россия, 103460, Москва, Зеленоград

Тел.: +7 (495) 531-13-06

Факс: +7 (495) 531-46-56

e-mail: admin@niifp.ru

www: http://www.niifp.ru/


Продукция:

    Растровые электронные микроскопы STEREOSCAN-360 и CAMSCAN-4;

    Профилометр ALPHA-STEP 200;

    Масс спектрометр для элементного и изотопного анализа с ионизацией в индуктивно-связанной плазме PLASMAQUAD;

    Растровый Оже-микроанализатор PHJ-660;

    ВИМС – вторично-ионный масс спектрометр CAMECA IMS 4f;

    Высоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп NT-MDT;

    Мембраны как направление микромеханики;

    Интегральные схемы с однослойной топологией;

    Полевые транзисторы с туннельными контактами;

    Новое явление - самоохлаждение активной области излучающих гетероструктур;

    Технология формирования торцевых джозефсоновских переходов Nb/a-Si/Nb и сверхпроводниковых интегральных схем на их основе;

    Технология расчета и проектирования специализированных сверхпроводниковых ИС на основе квантового интерферометра (СКВИДА);

    Медицинские приборы;

    Считыватель штриховых кодов с устройством сбора информации;

    Биометрическое устройство ограничения доступа к компьютеру;

    Линейки и матрицы ПЗС;

    Фантомная сборка для дозиметрических измерений ионизирующих излучений;

    Набор для люминесцентного определения концентрации микроорганизмов в деионизированной воде;

    Комплекс приборов и методов для экспресс-анализа водных сред на содержание примеси органических веществ;

    Твердотельный электролитический конденсатор;

    Литий-полимерный перезаряжаемый источник тока;

    Псевдосенсорный комутирующий элемент;

    Клеевые составы постоянной липкости;

    Фото-электроно-резисты с химическим усилением;

    Технология получения тонких кремниевых мембран;

    Комплекс установок магнетронного напыления;

    SMSGRAPH - программное обеспечение для измерения микронных и субмикронных размеров элементов СБИС с помощью растрового электронного микроскопа;

    Кипарис - программа схемотехнического моделирования интегральных схем;

    FACT;

    Кантилеверы для сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ).

  • Связанные темы
Проекты
Страны

  • Библиотека
  • Обсуждаемое
    Обновить
  • 29.10 10:46
  • 6
США планируют практически утроить ядерный арсенал к 2050 году
  • 29.10 10:43
  • 11120
Без кнута и пряника. Россия лишила Америку привычных рычагов влияния
  • 29.10 06:16
  • 0
И еще о росте производства в богоспасаемой империи св. Николая II
  • 29.10 02:28
  • 1
О росте производства в богоспасаемой империи св. Николая II
  • 29.10 00:40
  • 0
Комментарий к "В России призвали американских генералов провести для Трампа ликбез по подлодкам"
  • 28.10 21:36
  • 2
Беларусь и Мьянма поддерживают высокий уровень сотрудничества в военно-технической сфере
  • 28.10 20:10
  • 0
Комментарий к "США планируют практически утроить ядерный арсенал к 2050 году"
  • 28.10 18:54
  • 1
В России призвали американских генералов провести для Трампа ликбез по подлодкам
  • 28.10 17:41
  • 1
Игры и экология
  • 28.10 16:29
  • 64
Гендиректор ОАК Слюсарь: испытания SSJ New с российскими двигателями начнутся осенью - Интервью ТАСС
  • 28.10 16:25
  • 57
МС-21 готовится к первому полету
  • 28.10 15:37
  • 0
Защита от агрессии
  • 28.10 02:35
  • 4
Объявлен старт испытаний самолета «Ладога»
  • 28.10 01:18
  • 1
В России создали систему самоуничтожения для защиты информации
  • 27.10 17:00
  • 1
Дмитриев: Россия хочет дипломатического урегулирования конфликта на Украине