Войти

НИИФП Лукина


Полное наименование: Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Научно-исследовательский институт физических проблем имени Ф.В. Лукина"

Краткое наименование: ФГУП "НИИФП"

Адрес: Россия, 103460, Москва, Зеленоград

Тел.: +7 (495) 531-13-06

Факс: +7 (495) 531-46-56

e-mail: admin@niifp.ru

www: http://www.niifp.ru/


Продукция:

  • Растровые электронные микроскопы STEREOSCAN-360 и CAMSCAN-4;
  • Профилометр ALPHA-STEP 200;
  • Масс спектрометр для элементного и изотопного анализа с ионизацией в индуктивно-связанной плазме PLASMAQUAD;
  • Растровый Оже-микроанализатор PHJ-660;
  • ВИМС – вторично-ионный масс спектрометр CAMECA IMS 4f;
  • Высоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп NT-MDT;
  • Мембраны как направление микромеханики;
  • Интегральные схемы с однослойной топологией;
  • Полевые транзисторы с туннельными контактами;
  • Новое явление - самоохлаждение активной области излучающих гетероструктур;
  • Технология формирования торцевых джозефсоновских переходов Nb/a-Si/Nb и сверхпроводниковых интегральных схем на их основе;
  • Технология расчета и проектирования специализированных сверхпроводниковых ИС на основе квантового интерферометра (СКВИДА);
  • Медицинские приборы;
  • Считыватель штриховых кодов с устройством сбора информации;
  • Биометрическое устройство ограничения доступа к компьютеру;
  • Линейки и матрицы ПЗС;
  • Фантомная сборка для дозиметрических измерений ионизирующих излучений;
  • Набор для люминесцентного определения концентрации микроорганизмов в деионизированной воде;
  • Комплекс приборов и методов для экспресс-анализа водных сред на содержание примеси органических веществ;
  • Твердотельный электролитический конденсатор;
  • Литий-полимерный перезаряжаемый источник тока;
  • Псевдосенсорный комутирующий элемент;
  • Клеевые составы постоянной липкости;
  • Фото-электроно-резисты с химическим усилением;
  • Технология получения тонких кремниевых мембран;
  • Комплекс установок магнетронного напыления;
  • SMSGRAPH - программное обеспечение для измерения микронных и субмикронных размеров элементов СБИС с помощью растрового электронного микроскопа;
  • Кипарис - программа схемотехнического моделирования интегральных схем;
  • FACT;
  • Кантилеверы для сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ).
  • Связанные темы
Проекты
Страны
  • Библиотека
  • Обсуждаемое
  • 03.07 19:26
  • 2
Минобороны ЧР: «Мы займемся информацией о российских деньгах для Талибана* за убийство солдат НАТО» (Seznam zprávy, Чехия)
  • 03.07 18:38
  • 27
В США предложили России вместо «Ангары» летать на батуте
  • 03.07 18:11
  • 3
Скандалы советского военпрома: как конструкторские бюро устраивали разборки
  • 03.07 17:26
  • 1
Экипажи по-флотски: для российских вертолётоносцев подбирают команды
  • 03.07 17:05
  • 1
Сфера сертификации новых технологий в РФ проблематична и чересчур забюрократизирована, считает Медведев
  • 03.07 16:45
  • 1
Металлопрокат
  • 03.07 16:01
  • 6
«Терминатор-3»: гроза натовских солдат и бородатых инсургентов
  • 03.07 15:15
  • 9
Sukhoi Superjet 100: от взлета до падения
  • 03.07 15:13
  • 5
Новое соперничество сверхдержав между Пекином и Вашингтоном: Китай наращивает ядерный арсенал (The New York Times, США)
  • 03.07 14:14
  • 1
Как делают российские планшеты в Шуе
  • 03.07 14:02
  • 501
Страна не работает до 30 апреля
  • 03.07 13:28
  • 13
Страна (Украина): хотят ли русские воды. Почему украинские чиновники и генералы США заявляют о грядущем вторжении России
  • 03.07 11:50
  • 12
Лукашенко: Единственный союзник, который остался у России, - Белоруссия
  • 03.07 11:49
  • 2
В Грузии объяснили недовольство мозаикой главного храма Вооруженных сил России
  • 03.07 11:40
  • 2
Созданные по stealth-технологии объекты обнаружат по их радиолокационной тени