НИИФП Лукина

Полное наименование: Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Научно-исследовательский институт физических проблем имени Ф.В. Лукина"

Краткое наименование: ФГУП "НИИФП"

Адрес: Россия, 103460, Москва, Зеленоград

Тел.: +7 (495) 531-13-06

Факс: +7 (495) 531-46-56

e-mail: admin@niifp.ru

www: http://www.niifp.ru/

Продукция:

• Растровые электронные микроскопы STEREOSCAN-360 и CAMSCAN-4;
• Профилометр ALPHA-STEP 200;
• Масс спектрометр для элементного и изотопного анализа с ионизацией в индуктивно-связанной плазме PLASMAQUAD;
• Растровый Оже-микроанализатор PHJ-660;
• ВИМС – вторично-ионный масс спектрометр CAMECA IMS 4f;
• Высоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп NT-MDT;
• Мембраны как направление микромеханики;
• Интегральные схемы с однослойной топологией;
• Полевые транзисторы с туннельными контактами;
• Новое явление - самоохлаждение активной области излучающих гетероструктур;
• Технология формирования торцевых джозефсоновских переходов Nb/a-Si/Nb и сверхпроводниковых интегральных схем на их основе;
• Технология расчета и проектирования специализированных сверхпроводниковых ИС на основе квантового интерферометра (СКВИДА);
• Медицинские приборы;
• Считыватель штриховых кодов с устройством сбора информации;
• Биометрическое устройство ограничения доступа к компьютеру;
• Линейки и матрицы ПЗС;
• Фантомная сборка для дозиметрических измерений ионизирующих излучений;
• Набор для люминесцентного определения концентрации микроорганизмов в деионизированной воде;
• Комплекс приборов и методов для экспресс-анализа водных сред на содержание примеси органических веществ;
• Твердотельный электролитический конденсатор;
• Литий-полимерный перезаряжаемый источник тока;
• Псевдосенсорный комутирующий элемент;
• Клеевые составы постоянной липкости;
• Фото-электроно-резисты с химическим усилением;
• Технология получения тонких кремниевых мембран;
• Комплекс установок магнетронного напыления;
• SMSGRAPH - программное обеспечение для измерения микронных и субмикронных размеров элементов СБИС с помощью растрового электронного микроскопа;
• Кипарис - программа схемотехнического моделирования интегральных схем;
• FACT;
• Кантилеверы для сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ).