Войти

НИИФП Лукина


Полное наименование: Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Научно-исследовательский институт физических проблем имени Ф.В. Лукина"

Краткое наименование: ФГУП "НИИФП"

Адрес: Россия, 103460, Москва, Зеленоград

Тел.: +7 (495) 531-13-06

Факс: +7 (495) 531-46-56

e-mail: admin@niifp.ru

www: http://www.niifp.ru/


Продукция:

  • Растровые электронные микроскопы STEREOSCAN-360 и CAMSCAN-4;
  • Профилометр ALPHA-STEP 200;
  • Масс спектрометр для элементного и изотопного анализа с ионизацией в индуктивно-связанной плазме PLASMAQUAD;
  • Растровый Оже-микроанализатор PHJ-660;
  • ВИМС – вторично-ионный масс спектрометр CAMECA IMS 4f;
  • Высоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп NT-MDT;
  • Мембраны как направление микромеханики;
  • Интегральные схемы с однослойной топологией;
  • Полевые транзисторы с туннельными контактами;
  • Новое явление - самоохлаждение активной области излучающих гетероструктур;
  • Технология формирования торцевых джозефсоновских переходов Nb/a-Si/Nb и сверхпроводниковых интегральных схем на их основе;
  • Технология расчета и проектирования специализированных сверхпроводниковых ИС на основе квантового интерферометра (СКВИДА);
  • Медицинские приборы;
  • Считыватель штриховых кодов с устройством сбора информации;
  • Биометрическое устройство ограничения доступа к компьютеру;
  • Линейки и матрицы ПЗС;
  • Фантомная сборка для дозиметрических измерений ионизирующих излучений;
  • Набор для люминесцентного определения концентрации микроорганизмов в деионизированной воде;
  • Комплекс приборов и методов для экспресс-анализа водных сред на содержание примеси органических веществ;
  • Твердотельный электролитический конденсатор;
  • Литий-полимерный перезаряжаемый источник тока;
  • Псевдосенсорный комутирующий элемент;
  • Клеевые составы постоянной липкости;
  • Фото-электроно-резисты с химическим усилением;
  • Технология получения тонких кремниевых мембран;
  • Комплекс установок магнетронного напыления;
  • SMSGRAPH - программное обеспечение для измерения микронных и субмикронных размеров элементов СБИС с помощью растрового электронного микроскопа;
  • Кипарис - программа схемотехнического моделирования интегральных схем;
  • FACT;
  • Кантилеверы для сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ).
  • Связанные темы
Проекты
Страны
  • Библиотека
  • Обсуждаемое
  • 17.08 09:33
  • 16374
США отреагировали на начало российских военных маневров у границ Украины
  • 17.08 09:30
  • 19
Китай модернизировал Су-35 и серьезно увеличил его боевую мощь
  • 17.08 08:39
  • 1
Минобороны показало беспилотники террористов, сбитые за три дня в ходе атак на Хмеймим
  • 17.08 08:21
  • 3
Странный военный объект обнаружили в пустыне Гоби
  • 17.08 08:07
  • 1
Пентагон стремится к звёздам
  • 17.08 08:06
  • 1
Два Ту-160 на учениях впервые выполнили посадку на аэродром Анадырь
  • 17.08 07:58
  • 9
"Каспийский монстр" превращается в "Спасателя": Россия собирается расправить свои крылья в Арктике
  • 17.08 07:54
  • 1
Трамп отменил ограничения на нанесение киберударов по противникам США
  • 17.08 07:20
  • 1
Рогозин признал зависимость от США
  • 17.08 07:16
  • 24
"Туполев" в 2019 году начнёт модернизировать парк дальних бомбардировщиков Ту-22М3 - глава компании
  • 17.08 04:32
  • 13
"Выглядит ненормально": Америку смутил российский спутник
  • 16.08 22:47
  • 4
Российский "самолет-невидимка" Су-57 против Су-35: какая машина лучше?
  • 16.08 22:31
  • 6
«Туполев» передал на испытания первый Ту-22М3М
  • 16.08 22:20
  • 2
"Случайной" ядерной войны не бывает, считает эксперт
  • 16.08 22:13
  • 1
Летали и летать будем