Войти

НИИФП Лукина


Полное наименование: Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Научно-исследовательский институт физических проблем имени Ф.В. Лукина"

Краткое наименование: ФГУП "НИИФП"

Адрес: Россия, 103460, Москва, Зеленоград

Тел.: +7 (495) 531-13-06

Факс: +7 (495) 531-46-56

e-mail: admin@niifp.ru

www: http://www.niifp.ru/


Продукция:

    Растровые электронные микроскопы STEREOSCAN-360 и CAMSCAN-4;

    Профилометр ALPHA-STEP 200;

    Масс спектрометр для элементного и изотопного анализа с ионизацией в индуктивно-связанной плазме PLASMAQUAD;

    Растровый Оже-микроанализатор PHJ-660;

    ВИМС – вторично-ионный масс спектрометр CAMECA IMS 4f;

    Высоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп NT-MDT;

    Мембраны как направление микромеханики;

    Интегральные схемы с однослойной топологией;

    Полевые транзисторы с туннельными контактами;

    Новое явление - самоохлаждение активной области излучающих гетероструктур;

    Технология формирования торцевых джозефсоновских переходов Nb/a-Si/Nb и сверхпроводниковых интегральных схем на их основе;

    Технология расчета и проектирования специализированных сверхпроводниковых ИС на основе квантового интерферометра (СКВИДА);

    Медицинские приборы;

    Считыватель штриховых кодов с устройством сбора информации;

    Биометрическое устройство ограничения доступа к компьютеру;

    Линейки и матрицы ПЗС;

    Фантомная сборка для дозиметрических измерений ионизирующих излучений;

    Набор для люминесцентного определения концентрации микроорганизмов в деионизированной воде;

    Комплекс приборов и методов для экспресс-анализа водных сред на содержание примеси органических веществ;

    Твердотельный электролитический конденсатор;

    Литий-полимерный перезаряжаемый источник тока;

    Псевдосенсорный комутирующий элемент;

    Клеевые составы постоянной липкости;

    Фото-электроно-резисты с химическим усилением;

    Технология получения тонких кремниевых мембран;

    Комплекс установок магнетронного напыления;

    SMSGRAPH - программное обеспечение для измерения микронных и субмикронных размеров элементов СБИС с помощью растрового электронного микроскопа;

    Кипарис - программа схемотехнического моделирования интегральных схем;

    FACT;

    Кантилеверы для сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ).

  • Связанные темы
Проекты
Страны

  • Библиотека
  • Обсуждаемое
    Обновить
  • 19.07 02:39
  • 9672
Без кнута и пряника. Россия лишила Америку привычных рычагов влияния
  • 18.07 23:13
  • 0
Ответ на "TNI: Отказ ВВС США от штурмовиков A-10 — это ужасная ошибка"
  • 18.07 21:30
  • 0
Ответ на "США теперь открыто стремятся окружить Россию через так называемый Зангезурский коридор (infoBRICS, Китай)"
  • 18.07 20:42
  • 482
Израиль усиливает меры безопасности в связи с опасениями ударов со стороны Ирана
  • 18.07 20:28
  • 0
Ответ на "НАТО пригрозило стереть с лица земли Калининградскую область"
  • 18.07 19:59
  • 0
Ответ на " На Западе ответили на вопрос «Могут ли бомбардировщики B-2 ударить по России?»"
  • 18.07 16:45
  • 0
Амбициозная Польша
  • 18.07 14:13
  • 0
Борьба за космос
  • 18.07 13:33
  • 23
ChatGPT-4 и нейросети (ИИ) спешат на помощь ГШ ВС РФ и Российской армии
  • 18.07 11:29
  • 1
Одни из последних украинских ЗРК С-300 уничтожены ударом "Искандера" (Military Watch Magazine, США)
  • 18.07 11:22
  • 13
"Вампиры" против "Гераней" на Украине
  • 18.07 10:56
  • 1
Запрос Киева к США на «сухопутные» Tomahawk связан с его планами по альтернативе новому контрнаступлению ВСУ
  • 18.07 05:24
  • 1
Северная Корея разработала для пушек и гаубиц снаряды, бьющие на 40 км
  • 18.07 05:09
  • 1
«Ростех» рассказал о малозаметных ракетах «Панциря»
  • 18.07 03:41
  • 1
Ответ на "Минобороны оценило дальность действия ракетных комплексов ВМФ"