Войти

НИИФП Лукина


Полное наименование: Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Научно-исследовательский институт физических проблем имени Ф.В. Лукина"

Краткое наименование: ФГУП "НИИФП"

Адрес: Россия, 103460, Москва, Зеленоград

Тел.: +7 (495) 531-13-06

Факс: +7 (495) 531-46-56

e-mail: admin@niifp.ru

www: http://www.niifp.ru/


Продукция:

  • Растровые электронные микроскопы STEREOSCAN-360 и CAMSCAN-4;
  • Профилометр ALPHA-STEP 200;
  • Масс спектрометр для элементного и изотопного анализа с ионизацией в индуктивно-связанной плазме PLASMAQUAD;
  • Растровый Оже-микроанализатор PHJ-660;
  • ВИМС – вторично-ионный масс спектрометр CAMECA IMS 4f;
  • Высоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп NT-MDT;
  • Мембраны как направление микромеханики;
  • Интегральные схемы с однослойной топологией;
  • Полевые транзисторы с туннельными контактами;
  • Новое явление - самоохлаждение активной области излучающих гетероструктур;
  • Технология формирования торцевых джозефсоновских переходов Nb/a-Si/Nb и сверхпроводниковых интегральных схем на их основе;
  • Технология расчета и проектирования специализированных сверхпроводниковых ИС на основе квантового интерферометра (СКВИДА);
  • Медицинские приборы;
  • Считыватель штриховых кодов с устройством сбора информации;
  • Биометрическое устройство ограничения доступа к компьютеру;
  • Линейки и матрицы ПЗС;
  • Фантомная сборка для дозиметрических измерений ионизирующих излучений;
  • Набор для люминесцентного определения концентрации микроорганизмов в деионизированной воде;
  • Комплекс приборов и методов для экспресс-анализа водных сред на содержание примеси органических веществ;
  • Твердотельный электролитический конденсатор;
  • Литий-полимерный перезаряжаемый источник тока;
  • Псевдосенсорный комутирующий элемент;
  • Клеевые составы постоянной липкости;
  • Фото-электроно-резисты с химическим усилением;
  • Технология получения тонких кремниевых мембран;
  • Комплекс установок магнетронного напыления;
  • SMSGRAPH - программное обеспечение для измерения микронных и субмикронных размеров элементов СБИС с помощью растрового электронного микроскопа;
  • Кипарис - программа схемотехнического моделирования интегральных схем;
  • FACT;
  • Кантилеверы для сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ).
  • Связанные темы
Проекты
Страны
  • Библиотека
  • Обсуждаемое
  • 09.12 18:56
  • 21
Китай построит седьмой авианосец
  • 09.12 18:51
  • 64
Российские "ракетные поезда" могут стать ответом на выход США из ДРСМД
  • 09.12 18:15
  • 8
Новейший ЗРК "Викинг" защитит от любых "Стелсов" и крылатых ракет
  • 09.12 17:55
  • 1
"Роскосмос" нашел "руку Москвы" в НАСА и Boeing
  • 09.12 17:26
  • 6
Россия использует пропаганду как средство войны против Запада - британский генерал
  • 09.12 16:44
  • 2
ОДК и Safran Aircraft Engines заключили долгосрочный контракт по поставкам компонентов газотурбинных двигателей
  • 09.12 16:37
  • 90
Десантники-штурмовики получили новейшие ПТРК "Корнет" с тепловизорами
  • 09.12 16:12
  • 4
В Ростехе прорабатывают использование двигателя второго этапа на Су-57
  • 09.12 16:03
  • 1
"Бригада Святой Варвары": Зеленский присвоил почётные наименования подразделениям ВСУ
  • 09.12 16:02
  • 1
Израиль испытал ядерную МБР
  • 09.12 15:58
  • 1
США могут признать Россию страной-спонсором терроризма
  • 09.12 15:52
  • 9
ВВС США продолжают разработку гиперзвукового боеприпаса AGM-183A
  • 09.12 15:36
  • 3
В США предрекли взрыв Россией ядерной бомбы в Польше
  • 09.12 14:45
  • 1
Киев планирует реформировать Минобороны Украины
  • 09.12 14:44
  • 2
Российское средство ПВО, вероятно, сбило американский беспилотник