Войти

НИИФП Лукина


Полное наименование: Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Научно-исследовательский институт физических проблем имени Ф.В. Лукина"

Краткое наименование: ФГУП "НИИФП"

Адрес: Россия, 103460, Москва, Зеленоград

Тел.: +7 (495) 531-13-06

Факс: +7 (495) 531-46-56

e-mail: admin@niifp.ru

www: http://www.niifp.ru/


Продукция:

  • Растровые электронные микроскопы STEREOSCAN-360 и CAMSCAN-4;
  • Профилометр ALPHA-STEP 200;
  • Масс спектрометр для элементного и изотопного анализа с ионизацией в индуктивно-связанной плазме PLASMAQUAD;
  • Растровый Оже-микроанализатор PHJ-660;
  • ВИМС – вторично-ионный масс спектрометр CAMECA IMS 4f;
  • Высоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп NT-MDT;
  • Мембраны как направление микромеханики;
  • Интегральные схемы с однослойной топологией;
  • Полевые транзисторы с туннельными контактами;
  • Новое явление - самоохлаждение активной области излучающих гетероструктур;
  • Технология формирования торцевых джозефсоновских переходов Nb/a-Si/Nb и сверхпроводниковых интегральных схем на их основе;
  • Технология расчета и проектирования специализированных сверхпроводниковых ИС на основе квантового интерферометра (СКВИДА);
  • Медицинские приборы;
  • Считыватель штриховых кодов с устройством сбора информации;
  • Биометрическое устройство ограничения доступа к компьютеру;
  • Линейки и матрицы ПЗС;
  • Фантомная сборка для дозиметрических измерений ионизирующих излучений;
  • Набор для люминесцентного определения концентрации микроорганизмов в деионизированной воде;
  • Комплекс приборов и методов для экспресс-анализа водных сред на содержание примеси органических веществ;
  • Твердотельный электролитический конденсатор;
  • Литий-полимерный перезаряжаемый источник тока;
  • Псевдосенсорный комутирующий элемент;
  • Клеевые составы постоянной липкости;
  • Фото-электроно-резисты с химическим усилением;
  • Технология получения тонких кремниевых мембран;
  • Комплекс установок магнетронного напыления;
  • SMSGRAPH - программное обеспечение для измерения микронных и субмикронных размеров элементов СБИС с помощью растрового электронного микроскопа;
  • Кипарис - программа схемотехнического моделирования интегральных схем;
  • FACT;
  • Кантилеверы для сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ).
  • Связанные темы
Проекты
Страны
  • Библиотека
  • Обсуждаемое
  • 24.01 13:52
  • 4
Медведев раскритиковал Роскосмос за прожектерство и неэффективное использование инвестиций
  • 24.01 13:35
  • 4
В Мурманской области разбился бомбардировщик Ту-22М3
  • 24.01 13:28
  • 23
ВМФ России получит облегчённый вариант "Циркона"
  • 24.01 12:58
  • 3
Научный руководитель Института астрономии: зачем нужна Луна
  • 24.01 11:47
  • 32
В Китае удивлены малыми объёмами закупок Су-57 для ВКС РФ
  • 24.01 11:45
  • 1
Маршал Огарков и идеи неядерного сдерживания
  • 24.01 11:30
  • 3
Российский военный флот признали бесполезным для Сухопутных войск и ВДВ
  • 24.01 11:26
  • 2
Financial Times (ВЕликобритания): Путин исключает прорыв на переговорах с Японией о спорных островах
  • 24.01 11:04
  • 29
"Танк будущего" Т-14 повторит судьбу пятибашенного советского монстра Т-35
  • 24.01 11:02
  • 1
Производство смешных африканских экзоскелетов сняли на видео
  • 24.01 10:41
  • 166
Источник: стратегический подводный беспилотник "Посейдон" получит скорость более 200 км/ч
  • 24.01 09:58
  • 4
Медведев: Роскосмос срывает сроки строительства "Восточного"
  • 24.01 09:44
  • 1
Испытания экспериментальной гаубицы армии США
  • 24.01 09:32
  • 51
"Поскользнулись на соплях": кто продырявил МКС
  • 24.01 09:24
  • 1
Подлодка ВМС Британии едва не столкнулась с паромом