НИИФП Лукина


Полное наименование: Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Научно-исследовательский институт физических проблем имени Ф.В. Лукина"

Краткое наименование: ФГУП "НИИФП"

Адрес: Россия, 103460, Москва, Зеленоград

Тел.: +7 (495) 531-13-06

Факс: +7 (495) 531-46-56

e-mail: admin@niifp.ru

www: http://www.niifp.ru/


Продукция:

    Растровые электронные микроскопы STEREOSCAN-360 и CAMSCAN-4;

    Профилометр ALPHA-STEP 200;

    Масс спектрометр для элементного и изотопного анализа с ионизацией в индуктивно-связанной плазме PLASMAQUAD;

    Растровый Оже-микроанализатор PHJ-660;

    ВИМС – вторично-ионный масс спектрометр CAMECA IMS 4f;

    Высоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп NT-MDT;

    Мембраны как направление микромеханики;

    Интегральные схемы с однослойной топологией;

    Полевые транзисторы с туннельными контактами;

    Новое явление - самоохлаждение активной области излучающих гетероструктур;

    Технология формирования торцевых джозефсоновских переходов Nb/a-Si/Nb и сверхпроводниковых интегральных схем на их основе;

    Технология расчета и проектирования специализированных сверхпроводниковых ИС на основе квантового интерферометра (СКВИДА);

    Медицинские приборы;

    Считыватель штриховых кодов с устройством сбора информации;

    Биометрическое устройство ограничения доступа к компьютеру;

    Линейки и матрицы ПЗС;

    Фантомная сборка для дозиметрических измерений ионизирующих излучений;

    Набор для люминесцентного определения концентрации микроорганизмов в деионизированной воде;

    Комплекс приборов и методов для экспресс-анализа водных сред на содержание примеси органических веществ;

    Твердотельный электролитический конденсатор;

    Литий-полимерный перезаряжаемый источник тока;

    Псевдосенсорный комутирующий элемент;

    Клеевые составы постоянной липкости;

    Фото-электроно-резисты с химическим усилением;

    Технология получения тонких кремниевых мембран;

    Комплекс установок магнетронного напыления;

    SMSGRAPH - программное обеспечение для измерения микронных и субмикронных размеров элементов СБИС с помощью растрового электронного микроскопа;

    Кипарис - программа схемотехнического моделирования интегральных схем;

    FACT;

    Кантилеверы для сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ).

  • Связанные темы
Проекты
Страны

  • Библиотека
  • Обсуждаемое
    Обновить
  • 07.06 10:47
  • 1
Создатели «Эльбрусов» пообещали процессор, «в 30-200 раз» превосходящий иностранные
  • 07.06 10:24
  • 9276
Без кнута и пряника. Россия лишила Америку привычных рычагов влияния
  • 07.06 08:25
  • 50
Гендиректор ОАК Слюсарь: испытания SSJ New с российскими двигателями начнутся осенью - Интервью ТАСС
  • 07.06 06:47
  • 34
Российский завод начал в три смены выпускать трехтонные супербомбы. На что они способны?
  • 07.06 06:44
  • 12
Дроны ВСУ впервые атаковали Сибирь. Они вылетали из фуры, чтобы ударить по аэродрому
  • 07.06 06:24
  • 8
В США рассказали о самых опасных российских ракетах в зоне СВО
  • 07.06 05:47
  • 30
Украина получит два 35-мм зенитных артиллерийских комплекса Rheinmetall Skynex
  • 07.06 05:24
  • 313
Космонавтика Илона Маска
  • 07.06 05:21
  • 3
Грозит ли нам восстание машин?
  • 07.06 05:01
  • 2
Крылатая ракета X-101 на Украине: китайская оценка
  • 07.06 04:51
  • 13
Российские разведывательно-ударные мультикоптеры предложат на экспорт
  • 07.06 03:15
  • 1
Украина решила "сокрушить" Россию надувными танками
  • 07.06 02:44
  • 1
О мерах после атаки на мосты и аэродромы стратегической авиации.
  • 06.06 22:13
  • 8
Заявившему о невозможности укрыть военные самолеты в ангарах эксперту напомнили о Китае
  • 06.06 21:55
  • 3
Рябков: РФ восстановит самолеты, поврежденные в ходе атаки Украины 1 июня